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镇巴薄膜介电常数测试仪 批发采购

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镇巴薄膜介电常数测试仪 批发采购

发布用户:Beiguang123 时间:2021-12-30 08:42

仪器的技术指标
Q值测量范围:2~1023
Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
电感测量范围:14.5nH~8.14H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
电容直接测量范围:1~460pF 
主电容调节范围: 30~500pF
电容准确度 150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%            
信号源频率覆盖范围10KHz-60MHz或200KHz-160MHz

型号频率指示误差:3*10-5 ±1

试验池应全部拆开,彻底地消洗各部件,用溶剂回流的方法或放在木使用溶剂中搅动反复洗保方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中,在110℃左右的温度下烘干 30 min。待试验池的各部件冷却到室温,再重新装配起来。池内应注入一些待试的液体.停几分钟婚,倒出在上述各步骤中,各部件可用干净的针或钳子巧妙地处理,以使试验池有效韵内表面不与手接触。

14.2电化时间通常适宜的电化时间是60s±2s。电化时间的改变可使试验结果有相当大的变化。

镇巴薄膜介电常数测试仪 批发采购

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下易形成一层虫绝线的氧化膜,这层氧化膜会影响测量结果,此时可使用金箔. 5.1.3.2 烧熔金属电极妃熔金属电极适用于教璃,云母和陶瓷等材料,银是背遍使用的,但是在病温或病醚下,好采用金,1.3.3 喷罐金属电极。

电桥测量误差,测量时误差不超过10%,当试样tanδ小于0.001时测量误差不超过0.00电容的测量误差不超过5%。标准电容器的tanδ应小于0.0001。

镇巴薄膜介电常数测试仪 批发采购

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的经验公式由表1 给出。对于介质损耗阴数的需量,这种类型的电慢在高频下个能满足要求,廊非试样的表面和金属极都非靠平整,图1所示的电极系统也要求试样厚度均匀。试样上不加电极表雨电导率很纸的试件可以不加电慢雨待试样插人电极系统中测量,在这个电极系统中,试样的一氮或两侧有一个充满空气或液体的间隙。平板电慢或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。下而两种型式的电极装置特别合适。

本标准中液体的电阻率测量结果与试验条件有关,主要有:温度电阻率对温度的变化特别敏感,是按1/K指数变化。因此需要在足够精确的温度条件下进行测量,电场强度的值。

试品的测试在不知道被测试品的大概容量及损耗时,可先施加少许的电压,找到粗平衡点后,再把工作电压升到所需的值,然后再寻找细平衡点。在测量时,灵敏度开关是按从小到大的规律来调节的。在测量时,R3开关时按从左至右的规律来调节的。

损耗因数和电阻率时,工频下测量应在对试样施加直流电压以前进行。工频试验后。4.3测量次序将直流电压施加在试样上应将两电极短路1min后再开始测量电阻率。会改变其随后测量的工频tanδ的结果。当在同一试样上相继测量电容率。

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此外,在一个合适的颗率和温度下,边缘电容可采用有保护环和无保护环的(比较)测量来获得,用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足晶度要求, 构成电极的材料金属结电极用极少量的硅脂或其敏介适的低描耗粘合剂将全属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅.也可以是这些金属的合金,其厚度醉大为100 也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是,智箔在较高温度。

εx=式中:εx——被试液体的相对电容率,Cx——被试液体的电容量,Ca——以空气作为介质的试验池的电容量。

电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生,重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均勺性导致的界面级化所引起的。温度损耗物数在一个频率下可以出现一个大值,这个颗率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的,这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。

Ca——以空气作为介质的试验池的电容量,Cg——修正电容。测量装有被试液体的试验池的电容量Cx并按下式计算相对电容率。

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Q值合格指示预置功能范围:5~1000
Q表正常工作条件
环境温度:0℃~+40℃ 
相对湿度:<80%; 
电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
其他
消耗功率:约25W;   
净重:约7kg;   
外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
产品配置:
测试主机一台;

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